电子电器产品在使用、运输及贮存历程中，
，
，，常面临高温或低温情形。。。。崎岖温情形试验通过模拟这类极端条件，
，
，，磨练产品的情形耐受能力，
，
，，其中国家标准 GB/T 2423.1-2008（低温试验 / 试验 A）与 GB/T 2423.2-2008（高温试验 / 试验 B），
，
，，划分明确了详细测试要求。。。。

一、试验目的

两项试验焦点目的是确定产品在低温或高温情形中，
，
，，能否维持正常使用、运输及贮存能力，
，
，，重点评估产品在稳固温度条件下的性能体现。。。。

二、试验工具

非散热样品：测试时自身不发热或发热量极小的产品（如大都元件、欠亨电装备）。。。。

散热样品：测试时自身会爆发热量的产品（如通电运行的装备），
，
，，判断标准为：样品外貌高热门温度较周围空气温度横跨 5K 及以上。。。。

三、试验要领

凭证样品类型与通电要求，
，
，，试验分为以下种别：

试验 Ab/Bb（非散热样品适用）：温度呈渐变趋势（速率不凌驾 1K / 分钟），
，
，，通常接纳高气流速率循环（便于温度快速稳固）。。。。样品一般处于非事情状态测试，
，
，，待温度稳固后，
，
，，可凭证需求通电检测。。。。

试验 Ad/Bd（散热样品适用）：温度呈渐变趋势，
，
，，接纳低气流速率循环（模拟现实使用情形），
，
，，样品需在温度稳固后再通电运行。。。。

试验 Ae/Be（散热样品且需全程通电适用）：温度呈渐变趋势，
，
，，接纳低气流速率循环。。。。样品放入试验箱后即通电，
，
，，随后启动温度转变程序。。。。

四、要害参数

温度：标准提供多组可选温度点

低温（GB/T 2423.1-2008）：-65℃、-55℃、-50℃、-40℃、-33℃、-25℃、-20℃、-10℃、-5℃、+5℃；；；；；

高温（GB/T 2423.2-2008）：笼罩 + 30℃至 + 1000℃，
，
，，包括 + 40℃、+55℃、+70℃、+85℃、+100℃、+125℃、+155℃等常用节点。。。。

持续时间：标准给出建议时长，
，
，，例如低温试验常用 2h、16h、72h、96h，
，
，，高温试验常用 2h、16h、72h、96h、168h 等。。。。详细温度与时长需连系产品规范或应用情形确定。。。。

五、主要注重事项

包装要求：稳态试验时，
，
，，通常需去除包装测试（除非产品规范要求带包装，
，
，，或发热元件与包装不可拆分）。。。。

温度监控：需准确丈量试验箱事情空间的空气温度，
，
，，传感器布设位置应阻止受样品散热影响。。。。

恢复流程：试验竣事后，
，
，，样品需在试验箱内或标准情形中静置恢复足够时间（至少 1h），
，
，，待其温度稳固后，
，
，，方可开展检测。。。。

气流速率：针对散热样品，
，
，，低气流速率是焦点要求，
，
，，标准中明确了确认试验箱气流速率是否达标的要领。。。。

GB/T 2423.1-2008（低温）与 GB/T 2423.2-2008（高温）是评估电工电子产品耐温性能的基础性标准。。。。明确产品属于散热型照旧非散热型，
，
，，以及测试时是否需全程通电，
，
，，是准确选择试验要领（Ab/Ad/Ae 或 Bb/Bd/Be）的焦点条件。。。。试验的温度节点与持续时间，
，
，，需连系产品现实应用场景确定，
，
，，严酷遵照标准开展测试，
，
，，可有用验证产品在极端温度情形下的可靠性。。。。